|
|
 |
|
|
|
|
|
|
| Detalji |
| Projekt: |
Optička svojstva nanostrukturnih slojeva |
| Voditelj: |
Hrvoje Zorc |
| Ustanova: |
Institut "Ruđer Bošković", Zagreb |
| Sažetak: |
Nanofotonika je vrlo propulzivno područje istraživanja koje se bavi optičkim svojstvima nanostrukturnih slojeva, omogućujući time razvoj novih tehnologija i prodor u nova područja znanosti. U Zavodu LAIR (Institut Ruđer Bošković), u Laboratoriju za optiku tankih slojeva više od tri desetljeća bavimo se istraživanjem i razvojem, te dizajnom, izradom i karakterizacijom višeslojnih optičkih nanostruktura. One se koriste u raznim fotoničkim primjenama. Prvi korak za dalji razvoj nanofotonike je poznavanje optičkih karakteristika ovih struktura.
Tokom predloženog projekta razvit će se dizajn, depozicija i karakterizacija nove generacije navedenih klasičnih višeslojnih nanostruktura. One će biti dobivene uz pomoć poboljšanog postojećeg uređaja za depoziciju i procesa depozicije koji će omogućiti bolju kvalitetu i reproducibilnost slojeva.
Planirana je i depozicija i istraživanje metalnih nanoklastera kao metalnih otočića, u kombinaciji s dielektričnim materijalom, ili kao dio višeslojnog sustava. To je nova klasa slojeva koja je prikladna za brojne primjene u nanofotonici (npr. za selektivne apsorbere, obojena stakla, polarizatore, itd.) i koja je međunarodno prepoznata kao vrlo obećavajuće polje za istraživanje i tehnologiju.
Da bi se provela karakterizacija i dizajniranje biti će razvijeni računalni programi za karakterizaciju i dizajn slojeva koji sadrže nanoklastere uronjene u dielektrični materijal, te površinskih nanostruktura kao što su metalni otočići. Zbog toga će biti potrebno dopuniti i proširiti računalni program za dizajn i karakterizaciju tankih filmova koji je trenutno u upotrebi u zavodu. Dovršit će se i računalni program za karakterizaciju nehomogenih slojeva, kao nadogradnja našeg prethodnog rada na karakterizaciji slojeva homogenog indeksa loma.
Optička će se svojstva načinjenih uzoraka eksperimentalno određivati iz mjerenja transmisije, refleksije i elipsometrijskih mjerenja. Kao nadopuna, rezultati dobiveni upotrebom drugih metoda (AFM, TEM, GISAX, PDS) će omogućiti korelaciju između optičkih i fizičkih svojstava uzoraka.
Važnost projekta je u razvoju postojećih te otvaranju novih područja istraživanja. Nanostrukture za vrlo specifične namjene dizajnirat će se, te eventualno izraditi, prema potrebama drugih projekata i grupa, istovremeno dajući smjernice za nastavak istraživanja u ovom području u budućnosti. |
|
|
|
|
|
|
|
