|
|
 |
|
|
|
|
|
|
| Detalji |
| Projekt: |
Struktura i svojstva posebnih nanomaterijala dobivenih suvremenim tehnikama |
| Voditelj: |
Antun Tonejc |
| Ustanova: |
Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb |
| Sažetak: |
Razumijevanje i objašnjenje fizikalnih svojstava materijala nije moguće bez detaljnog poznavanja strukture što pored kristalne strukture uključuje i veličinu (nanokristalnu ili mikrokristalnu) i oblik kristalnih zrna, strukturu granica zrna, unutarnja naprezanja, istraživanje faznih pretvorbi i faznih dijagrama u kristalnom i amorfnom stanju, stupanj međusobne koherencije faza, utjecaj defekata, procese nukleacije, energije aktivacije prijelaza u ravnotežno stanje, omjer kristalne i amorfne faze, uvjete stvaranja i karakter čvrste otopine, prosječna udaljenost između dopirajućih atoma, specifičnu površinu uzoraka te utjecaj temperature i kemijskog sastava na stabilnost dane faze. Navedene informacije mogu se najizravnije dobiti primjenom rentgenske (XRD) i elektronske difrakcije (ED) kao i elektronske mikroskopije visokog razlučivanja (HRTEM) te s tim povezanim posebnim softverskim metodama obrade rezultata. Ispitivat će se nanomaterijali pripremani suvremenim i vrlo često posebnim metodama (primjerice: ultrabrzo hlađenje bilo iz taljevine ili čvrste faze, legiranje visokoenergetskim mljevenjem, posebnim ''sol-gel'' postupcima-primjerice tzv. bezvodna ''solvotermalna'' metoda, magnetskim rasprašivanjem, plinskom kemijskom depozicojom). Uz već uhodane metode priprave uzoraka u okviru dosadašnjih istraživanja (ultrabrzo hlađenje bilo iz taljevine ili čvrste faze, legiranje visokoenergetskim mljevenjem, ''sol-gel'' postupak, magnetsko rasprašivanje), nastojat će se realizirati nove kao posebna bezvodna ''solvotermalna'' metoda, te plinska kemijska depozicija. Navedenim metodama pripravljeni nanomaterijali mogu se svrstati u nekoliko grupa: a) višekomponentni metalni oksidi i metalne slitine prijelaznih metala i rijetkih zemalja, prezasićene čvrste otopine, kristalne i staklaste slitine, TiO2 čisti i dopirani, Al-Zn, Zr-Fe; b) ugljikove nanocjevčice i poluvodičke nanožice kao GaN; c) tanki metalni filmovi; d) manganatni perovskiti T(1-x)DxMnO3 (T=La, Pr, Nd, Sm; D=Ca, Sr, Ba). Strukturna karakterizacija pomoću XRD, ED i HRTEM dopunjavat će se komplementnim tehnikama kao energijska disperzivna spektroskopija, Raman spektroskopija, infracrvena spektroskopija i Mössbauerova spektroskopija, pretražna elektronska mikroskopija, kao i mjerenja električne i toplinske vodljivosti, te magnetootpora. Dobiveni rezultati pridonijet će boljem razumijevanju prirode tih materijala i time stvoriti prihvatljivije uvjete za industrijsku primjenu. |
|
|
|
|
|
|
|
